电子储存测试箱

适用于考核产品（整机）、元器件、委部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影温度变化试验的主要参数为温度变化范

围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素